在進(jìn)行絕緣測(cè)試時(shí)，大部分工程師都會(huì)關(guān)注搖表或電子絕緣測(cè)試儀的電壓范圍和電阻量程。選擇正確的測(cè)試電壓和電阻量程，可以保證測(cè)試的安全性，獲得更準(zhǔn)確的測(cè)試值。但還有一個(gè)參數(shù)經(jīng)常被廣大工程師忽略，更重要的是，它對(duì)測(cè)試結(jié)果有著很大影響。
想要了解短路電流的作用
首先需要了解絕緣測(cè)試時(shí)的原理
簡(jiǎn)單來說，絕緣電阻就是將被測(cè)設(shè)備上的直流電壓和流過被測(cè)設(shè)備上的漏電流，通過歐姆定律計(jì)算得到的值。因此，需要測(cè)試的就是對(duì)被測(cè)設(shè)備加一定電壓時(shí)流過設(shè)備的漏電流。
但實(shí)際上，絕緣測(cè)試測(cè)量的【漏電流I總】包括三個(gè)部分：
① I1 電容電流，在加壓過程中，相當(dāng)于給被測(cè)設(shè)備的電容充電，初始充電階段，電容電流較大，而后，電容電流將隨著充電完成而衰減至零。
② I2吸收電流，在加壓瞬間到穩(wěn)定過程中，由于介質(zhì)極化，電荷重新排列時(shí)形成的電流，也會(huì)隨著穩(wěn)定而衰減至零。
③ I3 泄漏電流，由于絕緣不良而產(chǎn)生的電流，一般維持不變，也是絕緣測(cè)試中最關(guān)鍵的參數(shù)。
在加壓初期，例如15s時(shí)，I1和I2的存在將會(huì)使整體的【漏電流I總】增大，從而導(dǎo)致測(cè)得的R15s比實(shí)際值小，無法體現(xiàn)真實(shí)阻值，并且過小的R15s 也會(huì)使介質(zhì)吸收比R60S/R15S 嚴(yán)重偏大，使工程師造成誤判。
如何能夠盡可能地減少I1和I2 的影響？
此時(shí)就要請(qǐng)出【短路電流】來幫忙了。
較大的短路電流可以使電容充電過程更快，更早達(dá)到穩(wěn)定，因此，電容電流I1和吸收電流I2會(huì)越快衰減至零，減少影響，最后得到的阻值也越接近于真實(shí)絕緣阻值。
還是不夠清楚？看看對(duì)比你就知道了
對(duì)測(cè)試儀加壓1000V
觀察其在第15s時(shí)的絕緣阻值：
短路電流為1mA測(cè)試儀，R15s為466MΩ
短路電流為5mA的測(cè)試儀，R15s為780MΩ
比較后可以發(fā)現(xiàn)，較大的短路電流可以使電容充電過程更快，花更少的測(cè)試時(shí)間得到更真實(shí)的絕緣電阻值。
目前世面上大部分的絕緣表短路電流在1mA~2mA之間，要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測(cè)試儀，如Fluke 1537 絕緣電阻測(cè)試儀，特有5mA短路電流，使測(cè)試更快，結(jié)果更準(zhǔn)確。
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