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NI STS增強(qiáng)了RF測(cè)量功能，進(jìn)一步降低半導(dǎo)體測(cè)試成本
發(fā)布時(shí)間：2016/9/21 16:02:53 修改時(shí)間：2016/9/21 16:02:53 瀏覽次數(shù)：1617

　　作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來(lái)應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)今日宣布為半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)增加了全新的RF功能，使其可提供更高的收發(fā)功率、以及基于FPGA的實(shí)時(shí)包絡(luò)跟蹤(Envelop Tracking)和數(shù)字預(yù)失真處理(Digital Pre-Distortion)。
　　STS的其中一個(gè)最新改進(jìn)功能是高功率RF端口，可幫助RF前端模塊制造商滿足RFIC及其他智能設(shè)備不斷增加的測(cè)試需求，同時(shí)降低測(cè)試成本。由于RF端口位于一個(gè)與STS完全集成的測(cè)試裝置，因此RF測(cè)試開(kāi)發(fā)時(shí)間和成本可大幅降低，而且不會(huì)犧牲測(cè)量精度和性能。此外，這個(gè)集成的系統(tǒng)避免了傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)所需的成本高昂的螺栓連接式RF子系統(tǒng)。
　　由于越來(lái)越多的組件集成到RF前端模塊以及新的寬帶無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)具有更高的峰均功率比，這些器件的制造商需要更高功率的RF測(cè)量能力。用于STS的新RF端口對(duì)于RF盲插接口具有+38 dBm的發(fā)射功率和+40 dBm的接收功率，這是其他任何商業(yè)解決方案所不具備的領(lǐng)先能力。此外，STS附帶有功能完備的軟件，可以執(zhí)行26 GHz的S參數(shù)測(cè)量、基于FPGA的包絡(luò)跟蹤和基于FPGA的數(shù)字預(yù)失真處理。這些特性使得STS成為下一代RFIC的理想生產(chǎn)測(cè)試解決方案。
　　“我們持續(xù)為RF和混合信號(hào)器件制造商提供更智能的解決方案，不斷打破半導(dǎo)體ATE的現(xiàn)狀，”NI半導(dǎo)體測(cè)試副總裁Ron Wolfe表示， “STS開(kāi)放的模塊化架構(gòu)可幫助用戶在保有其資本投資的同時(shí)，能夠不斷利用最新的商業(yè)技術(shù)，使其測(cè)試能力滿足待測(cè)設(shè)備不斷變化的需求。”
　　STS于2014年首次推出，為半導(dǎo)體生產(chǎn)測(cè)試提供了一個(gè)變革性的方法，該方法基于NI平臺(tái)和生態(tài)系統(tǒng)，可幫助工程師開(kāi)發(fā)更智能的測(cè)試系統(tǒng)。這個(gè)平臺(tái)現(xiàn)在包含1 GHz帶寬的矢量信號(hào)收發(fā)儀、fA級(jí)源測(cè)量單元、業(yè)界領(lǐng)先的商用現(xiàn)成測(cè)試管理軟件TestStand半導(dǎo)體模塊，以及囊括直流到毫米波范圍的600多款PXI產(chǎn)品。平臺(tái)采用了PCI Express Gen 3總線接口，具有高吞吐量數(shù)據(jù)傳輸能力，同時(shí)利用集成定時(shí)和觸發(fā)的方式實(shí)現(xiàn)了亞納秒級(jí)的同步。用戶可以利用LabVIEW和NI TestStand軟件的高效生產(chǎn)力，以及一個(gè)由合作伙伴、附加IP和應(yīng)用工程師組成的充滿活力的生態(tài)系統(tǒng)，大幅降低測(cè)試成本，縮短上市時(shí)間，開(kāi)發(fā)面向未來(lái)的測(cè)試設(shè)備來(lái)滿足未來(lái)的各種嚴(yán)苛需求。
　　如需了解NI的更多半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)www.ni.com/semiconductor。

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30多年來(lái)，美國(guó)國(guó)家儀器公司(NI)幫助測(cè)試、控制、設(shè)計(jì)領(lǐng)域的工程師與科學(xué)家解決了從設(shè)計(jì)、原型到發(fā)布過(guò)程中所遇到的種種挑戰(zhàn)。通過(guò)現(xiàn)成可用的軟件，如LabVIEW, 以及高性價(jià)比的模塊化硬件，NI幫助各領(lǐng)域的工程師不斷創(chuàng)新，在縮短產(chǎn)品問(wèn)世時(shí)間的同… 更多>>

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