kokusaikagaku sft-9455 熒光X射線膜厚計(jì)

具備正比計(jì)數(shù)管和半導(dǎo)體檢測(cè)器兩個(gè)檢測(cè)器。

X射線管電壓50 KV、X射線管電流1.5毫安和高功率。

選擇應(yīng)用程序選擇畫(huà)面。

1 .定性分析：鈦更重的物質(zhì)的定性分析，強(qiáng)度測(cè)定等進(jìn)行。

第2 .測(cè)定法：用制作食譜，鍍金膜厚度和成分的自動(dòng)測(cè)量、自動(dòng)結(jié)果

輸出等輸出。

3 .散裝基本參數(shù)：電鍍液，合金、粉等的成分比測(cè)定基本參數(shù)法進(jìn)行。

4 .散裝標(biāo)準(zhǔn)曲線：電鍍液，合金、粉等的成分比例測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)曲線法進(jìn)行。

5 .薄膜基本參數(shù)：鍍金膜厚測(cè)定基本參數(shù)法進(jìn)行。

6點(diǎn)薄膜標(biāo)準(zhǔn)曲線：鍍金膜厚測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)曲線法進(jìn)行。

7 .維修：測(cè)量頭測(cè)試，穩(wěn)定度試驗(yàn)，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)值登記，校準(zhǔn)值圖表顯示等

在，有。

8點(diǎn)數(shù)據(jù)處理：測(cè)量結(jié)果Excel等在處理時(shí)使用。

（選項(xiàng)設(shè)定）也有這樣的應(yīng)用。

是校準(zhǔn)用X射線的屏幕。

正比計(jì)數(shù)管分辨率是Ni 1.24 keV，錫（Sn）2.06 keV良好。

順便說(shuō)一下，由于制造廠的定期檢查時(shí)的基準(zhǔn)值Ni 1.4 keV，錫（Sn）2.3 keV以下。

X射線管的使用時(shí)間5987.9時(shí)間（2017年1月22日為止），制造商的推薦更換時(shí)間

10000小時(shí)的6成弱。

樣品畫(huà)面（標(biāo)準(zhǔn)）。

試樣畫(huà)面100% 75% 50%的50%的轉(zhuǎn)換可能。

XYZ軸全部鼠標(biāo)操作。另外，用輕快的速度動(dòng)作。

樣品畫(huà)面（放大1）。

樣品畫(huà)面（放大2）。

樣品畫(huà)面（擴(kuò)大3）。

為一個(gè)自動(dòng)對(duì)焦的激光光。

半導(dǎo)體探測(cè)測(cè)量的Cu光譜。α射線和Kβ可以分開(kāi)測(cè)量

Au / Ni / Cu 10秒，100次的測(cè)量結(jié)果。

使用檢測(cè)器：正比計(jì)數(shù)管

科里：

管電壓：50 kV

管電流：1500μ

不過(guò)濾使用（非）

使用用途：薄膜標(biāo)準(zhǔn)曲線

平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，CV值等。