始終堅持以“搭建國內外光電企業交流平臺，推動全球光電事業發展”為己任的中國國際光電博覽會(CIOE)自1999年第一屆已經順利走過十六個年頭，第十七屆將于2015年8月31日至9月3日在深圳會展中心隆重舉行。本屆光博會啟用深圳會展中心全部展館,吸引超過3000家海內外光電企業，包括作為世界領先的測量與過程控制解決方案供應商的雷尼紹公司亦會利用此平臺展示最新技術進展。
雷尼紹公司將繼續亮相2號館LED技術及應用展, 與LED技術產業鏈上中下游企業交流與合作。雷尼紹旗下精密位置反饋系統一系列王牌產品ATOM?微型增量式光柵、RESOLUTE?絕對式光柵、TONiC?緊湊型接觸式光柵、RG2/RG4增量式光柵等集體登場，與您共同見證精準可靠新神話。
誠邀閣下蒞臨雷尼紹展位，展位號2D06 。
我們將為閣下提供精準可靠的位置反饋產品和解決方案。
ATOM增量式光柵系統
ATOM是一款雷尼紹隆重推出的、全新非接觸式的增量式直線光柵和圓光柵系統，它采用了獨特的創新設計，將微型化與優異的抗污能力、信號穩定性和可靠性完美結合。
ATOM最小尺寸可達6.8 mm x 20.5 mm x 12.7 mm，是世界上第一款采用光學濾波系統及自動增益控制 (AGC) 和自動偏置控制 (AOC) 的微型光柵。
ATOM讀數頭可提供各種型號，具有一流的精度、超低的電子細分誤差 (SDE)、極低的抖動、極高的信號穩定性和長期可靠性等優點，計量性能首屈一指。ATOM的工作速度可達20 m/s(在17 mm碼盤上為29,000 RPM)，分辨率達1 nm(在108 mm碼盤上為0.004角秒)，可提供不銹鋼及玻璃材質的直線柵尺和圓光柵。讀數頭還包含方便其進行快速安裝的LED安裝指示燈，以及可實現快速優化的自動校準程序。
ATOM超小型讀數頭可用于激光掃描，坐標測量系統、半導體和平板顯示器的生產以及電機驅動系統、顯微鏡和科研領域。ATOM具有CE認證，由雷尼紹在極其嚴格的質控(獲得ISO 9001:2008認證)條件下自行制造。與所有雷尼紹光柵一樣，ATOM也由一個全球團隊支持，提供真正快捷的全球化服務。
側出線型RESOLUTE?絕對式光柵
雷尼紹另外一款明星，側出線型RESOLUTE絕對式光柵，圓光柵和直線光柵均有此選項。為滿足平板顯示器 (FPD)、電子零部件組裝及測試設備市場的需求，這種配置應運而生，它可與各種現有協議兼容。側出線極大增加了軸行程，是縱向空間有限的直線應用的理想選擇。該光柵可在同一柵尺上并列安裝讀數頭，從而允許在下述應用中控制軸上多個點，例如用于生產液晶顯示器 (LCD) 的液體分配系統，以及半導體生產、電子裝配和測試的各個階段。
TONiC緊湊型接觸式光柵
雷尼紹TONiC系列產品是用于高動態精密運動系統的新一代超緊湊型光柵，為各種要求嚴格的工業領域提供了更高的精度、速度和可靠性。該讀數頭采用第三代光學濾波系統，噪聲(抖動)更低，具有極佳的可靠性和抗污染能力。TONiC讀數頭還有一個可分離的模擬或數字接口，該接口為堅固耐用、使用方便的接頭，可放置在距讀數頭不超過10 m遠的地方。接口提供的數字信號經細分后分辨率可達1 nm，定時輸出數字信號保證了所有分辨率下各種工業標準控制器的最佳速度性能。
RGH24直線光柵系統
開放式、非接觸RGH24讀數頭配有雷尼紹獨特靈活的20 μm RGS20-S鋼帶柵尺，具有1 um、0.1 um、10 nm等多種分辨率。RGH24結構輕巧，非常適宜在LED封裝設備、倒裝貼片機、激光劃線機等其空間有限的場合應用。RGH24超小型讀數頭帶有內置細分電路，能夠提供具備工業標準的模擬和數字輸出。
RGH45光柵系統
雷尼紹RGH45讀數頭擁有已得到市場認可的RG4直線光柵系統的所有優點 — 提供非接觸式的高速性能，并且擁有光學濾波系統，為防塵、防污染和防劃痕提供了可靠的性能保證。RGH45讀數頭專門與雷尼紹的高精度RTLR40不銹鋼帶柵尺配用。讀數頭密封在堅固的壓鑄件外殼中，采用優質的固態元件，具有超凡的可靠性。雙限位開關感應功能和重復性參考零位也屬于標準配置，可提供軸兩端各自的限位信號。
光博會上同期展出的另一個亮點是雷尼紹公司的激光干涉儀和球桿儀測量系統，用于評估、監控并提高機床、坐標測量機 (CMM) 及其他位置精度要求關鍵的運動系統的靜態和動態性能。
XR20-W無線型回轉軸校準裝置
XR20-W采用無線電動控制，數據采集與軸運動同步，即在數據采集期間無需操作員干預。該裝置與雷尼紹激光系統配合使用，通過遠控的方式為被測機床提供高度統一的非接觸基準測量。使用XR20-W回轉軸校準裝置及早對回轉軸進行誤差檢測，能夠使機床發揮最佳性能。
XL-80激光干涉儀
XL-80激光干涉儀不僅可測量直線定位、俯仰及扭擺角度、直線度及垂直度等靜態幾何精度，還可用于機器振動、頻譜分析、運動速度及角速度測量分析等動態場合。它廣泛應用在數控機床及坐標測量機精度檢測、計量器具(包括部分光學儀器)的溯源檢定及其他大范圍、高精度、高速動態測量等工業領域。