隨著科技的進(jìn)步，電子產(chǎn)品體積能越做越小、越來(lái)越輕量，但功能與效能方面卻較以往更為齊全，而越精巧的元件，則需要越高的制程技術(shù)。臺(tái)達(dá)針對(duì)小型被動(dòng)元件檢測(cè)需求推出AI六面檢查機(jī)，結(jié)合AOI + AI外觀檢查機(jī)，可應(yīng)用于被動(dòng)元件、集成電路、LED、陶瓷導(dǎo)熱片等電子元件，檢測(cè)外觀不良、有缺陷的產(chǎn)品。
而小型元件中，又以高頻晶片陶瓷元件 (LTCC) 所需檢驗(yàn)技術(shù)最高，其材料性質(zhì)特殊，外觀檢測(cè)不易，通常使用于產(chǎn)品質(zhì)量要求極高的無(wú)線通訊行業(yè)。針對(duì)客戶需求，臺(tái)達(dá)將AI六面檢查機(jī)導(dǎo)入某無(wú)線通訊行業(yè)客戶制程，成功提升其高頻晶片陶瓷元件的不良品檢出率。
圖1 臺(tái)達(dá)AI六面檢查機(jī)結(jié)合AOI（自動(dòng)光學(xué)檢查）與AI（人工智能）專利技術(shù)，提高檢測(cè)速度、效率以及質(zhì)量
傳統(tǒng)的LTCC元件多為人員目檢，在檢查速度、精度及穩(wěn)定性上，皆無(wú)法滿足產(chǎn)能及品質(zhì)水準(zhǔn)。后來(lái)改以AOI (自動(dòng)光學(xué)檢查) 設(shè)備做檢測(cè)，其檢測(cè)效率大幅提升，但對(duì)于產(chǎn)品的變異性仍不易偵測(cè)出，除了容易造成誤判、漏判外、也需要耗費(fèi)大量的人力進(jìn)行參數(shù)調(diào)整。臺(tái)達(dá)AI六面檢查機(jī)保留原有AOI優(yōu)勢(shì)外，更加入了深度學(xué)習(xí)的功能，當(dāng)系統(tǒng)自動(dòng)學(xué)習(xí)一定數(shù)量的正常產(chǎn)品及缺陷產(chǎn)品影像后，便能自動(dòng)將正常產(chǎn)品及缺陷產(chǎn)品分類，有效克服AOI難以檢出的暗裂及微裂等瑕疵，提升產(chǎn)品檢出率與檢出速度，節(jié)省作業(yè)時(shí)間、并減少產(chǎn)品誤判率。
AI六面檢查機(jī)設(shè)備檢測(cè)流程：整批料件進(jìn)入臺(tái)達(dá)AI六面檢查機(jī)內(nèi)建的震動(dòng)盤內(nèi)，經(jīng)過(guò)整料后，放入玻璃盤進(jìn)行帶動(dòng)，高速檢測(cè)轉(zhuǎn)盤將電子料件運(yùn)送至彩色CCD檢測(cè)站 (臺(tái)達(dá)AOI檢測(cè)) 進(jìn)行六個(gè)面的檢查 (前照檢測(cè)、下照檢測(cè)、右照檢測(cè)、左照檢測(cè)、后照檢測(cè)、上照檢測(cè))，另外，臺(tái)達(dá)AI六面檢查機(jī)預(yù)留兩個(gè)檢測(cè)站作為備用檢測(cè)使用，客戶可自行輸入電腦影像處理演算法于CCD檢測(cè)站，進(jìn)行自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，再經(jīng)過(guò)臺(tái)達(dá)AI人工智能檢測(cè)系統(tǒng)，能有效克服AOI難以檢出的暗裂及微裂等瑕疵，最后進(jìn)行分料作業(yè)，杜絕將不良產(chǎn)品流至客戶端。
圖2 臺(tái)達(dá)視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)可檢查外觀不良、有缺陷的產(chǎn)品，大幅提升良率，減少客戶產(chǎn)品的批退率
客戶在導(dǎo)入臺(tái)達(dá)AI六面檢查機(jī)后帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)包含：
●提升產(chǎn)品檢出速度，節(jié)省作業(yè)時(shí)間：
臺(tái)達(dá)檢測(cè)系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定，支持高速檢測(cè)，檢測(cè)速度可達(dá)8,000 pcs / min，大幅提升檢測(cè)效率；可針對(duì)客戶需求，量身打造檢測(cè)演算法，其AI檢測(cè)系統(tǒng)結(jié)合人工智能，持續(xù)優(yōu)化制程，并支持快速換線、強(qiáng)化離線檢出調(diào)整系統(tǒng)，優(yōu)化人員調(diào)整效率，降低人工目檢造成的品質(zhì)不穩(wěn)定與人力成本。
●提升產(chǎn)品檢出率，減少產(chǎn)品誤判率：
臺(tái)達(dá) AOI + AI 檢測(cè)系統(tǒng)含有白光及復(fù)合光源系統(tǒng)及人工智能演算法，可偵測(cè)多種尺寸與材質(zhì)，像是反光物及特殊缺陷 (暗裂及微裂等瑕疵) ，最小檢測(cè)元件尺寸可達(dá)0.4 X 0.2mm，加上檢查精度可達(dá)1um，有效提升不良品檢出率、降低批退率。
●統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析，MES連線管理：
支持統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)，完整搜集生產(chǎn)信息，可匯出統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)及圖表，并具備與制造執(zhí)行系統(tǒng) (MES) 連線功能，生產(chǎn)信息實(shí)時(shí)上傳，提供制程改善依據(jù)，解決傳統(tǒng)無(wú)法完整搜集、分析制程信息的問(wèn)題。
圖3 臺(tái)達(dá)針對(duì)小型被動(dòng)元件檢測(cè)需求提出AI六面檢查機(jī)，可應(yīng)用于被動(dòng)元件，集成電路、LED、陶瓷導(dǎo)熱片等電子元件
臺(tái)達(dá)AI六面檢查機(jī)保留原有AOI優(yōu)勢(shì)，并結(jié)合AI人工智能，可應(yīng)用在被動(dòng)元件、集成電路、LED、陶瓷導(dǎo)熱片等反光物及特殊缺陷的電子元件，節(jié)省整體檢測(cè)作業(yè)時(shí)間、提升產(chǎn)品檢出率與檢出速度，減少產(chǎn)品誤判率，使客戶產(chǎn)品的批退率獲得顯著的改善。